設(shè)備:半導(dǎo)體分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)ITC57300
廠商:ITC
用途:用于測試 Si/SiC/GaN基Diode,IGBT,MOSFET動態(tài)交流參數(shù)
測試標準:GJB 128B-20XX;IEC 60747-8-2010;MIL_STD_750F
技術(shù)指標:
1200V/100A,短路電流2500A
測試功能單元:
C57210-R 開關(guān)特性測試單元(阻性負載)
ITC57220 反向恢復(fù)特性測試單元
ITC57230 柵電荷特性測試單元(MOS)
ITC57240 開關(guān)特性測試單元(感性負載)
ITC57250 短路特性測試單元
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